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Optische Inspektion von LWL-Steckverbindungen

Es ist inzwischen gängige Praxis, dass die empfindlichen Faser-Enden einer LWL-Steckverbindung vor jedem Steckvorgang mikroskopisch geprüft und ggf. gereinigt werden. Die stets vorhandenen Staubkörner können nicht nur den optischen Strahlengang blockieren, sie führen auch zu Kratzern auf den optischen Oberflächen oder zerbröseln im schlimmsten Fall durch den Anpressdruck in kleinere Partikel und verschlimmern dadurch das Problem. Zur visuellen Inspektion der Faser-Oberflächen stehen Videomikroskope mit LCD-Monitor aber auch normale optische Durchsichtmikroskope zur Verfügung. Letztere eignen sich zur Betrachtung der Stirnflächen von Patch-Kabeln, sind jedoch weniger geeignet, um bei räumlich beengten Patch-Panels die Oberflächen der Fasern im ‚Bulk-Head‘ zu inspizieren. Aus diesem Grund hat der Messtechnikhersteller JDSU (Vertrieb durch Psiber Data) die HD3-P Monitore entwickelt, die sowohl einen 1,8″ TFT-LCD-Monitor zum Anschluss einer Video-Mikroskop-Probe als auch ein rein optisches Durchsichtmikroskop in einem kompakten Gehäuse vereinen. Der wesentliche Vorteil dieser Gerätekombination liegt in der dadurch möglichen zeitsparenden und effizienten Arbeitsweise: Während die Steckerseite mit dem Durchlichtmikroskop betrachtet und dort auch staubgeschützt geparkt wird, kann die Buchsenseite am Patch Panel mittels Video-Probe inspiziert werden. Die typischen Prüfzeiten für beide Seiten einer Steckverbindung reduzieren sich dadurch von ca. 40 auf unter 20s, wodurch sich die Anschaffungskosten der LCD / Mikroskop-Kombination nach bereits 600 bis 700 Prüfzyklen amortisieren.

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